设备能力

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X射线衍射分析仪(XRD)

设备名称 X射线衍射分析仪(XRD)
品牌 理学
型号 Ultima Ⅳ
主要参数

1、3KW 高频X射线发生器,60kV/80mA
2、稳定性:±0.0001%以内
3、铜靶陶瓷光管
4、外部泄漏X線量在0.2μsv/h
5、2θ转动范围:-110 ~+168°, 具有低角度衍射附件,最低可测角度0.3°
6、可读最小步长:0.0001°,角度重现性:0.0001°
7、最高定位速度:≥1500/min
8、配备CBO光路切换系统、小角测角仪单元及室温-1000℃变温单元;

功能应用

主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

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